上海菁華 755B紫外可見分光光度計 自動波長光度計配打印機詳(xiang)細介紹：

工(gong)作原理：通電開機后點燃光(guang)(guang)源燈，同時儀器通過(guo)CPU的(de)(de)(de)控制進行(xing)自測(ce)試狀態（尋找光(guang)(guang)源切換位置(zhi)(zhi)、波長(chang)限位位置(zhi)(zhi)、濾光(guang)(guang)片(pian)位置(zhi)(zhi)及(ji)尋找0級(ji)光(guang)(guang)或氘燈特征譜線）實現波長(chang)自動定位（546nm),然后切斷(duan)光(guang)(guang)路(lu)記憶下光(guang)(guang)電池的(de)(de)(de)暗電流，工(gong)作完(wan)畢(bi)后光(guang)(guang)路(lu)自動開啟。這時光(guang)(guang)源燈發出(chu)的(de)(de)(de)復合光(guang)(guang)進入單(dan)色(se)器，經光(guang)(guang)柵(zha)色(se)散由出(chu)射狹縫射出(chu)一束單(dan)色(se)光(guang)(guang)，經樣品室(shi)被(bei)光(guang)(guang)電池接收并轉(zhuan)為(wei)電訊號。通過(guo)放(fang)大器的(de)(de)(de)放(fang)大和(he)A/D變(bian)換后至CPU，CPU根據收到(dao)的(de)(de)(de)訊號和(he)調(diao)(diao)0%T、調(diao)(diao) T指(zhi)令，由軟(ruan)件調(diao)(diao)整自動控制，使(shi)信號保持穩定的(de)(de)(de)輸(shu)出(chu)，使(shi)數顯屏上顯示0.000A，實現了自動調(diao)(diao)0%T、調(diao)(diao) T/0A的(de)(de)(de)目(mu)的(de)(de)(de)。

上海菁華 755B紫外可見分光光度計 自動波長光度計配打印機功能特性：

1200L/mm紫外光柵，光電轉換器，C-T單色器結構。

樣品室可選(xuan)配10cm樣品架。

自動設置波長，自動調0%T/ T，T/A轉換。

自(zi)動修正波長誤差、光源(yuan)自(zi)動切換等功能。

儀器具有光(guang)度、定量、標準曲(qu)線等(deng)(deng)功(gong)能(neng)，掃描(miao)型(xing)儀器可擴展回(hui)歸方程、動(dong)力學等(deng)(deng)功(gong)能(neng)。

采(cai)用低雜(za)散光(guang)(guang)、高分辨率的(de)(de)光(guang)(guang)柵型單(dan)光(guang)(guang)束光(guang)(guang)路結構，具有良好的(de)(de)穩定性，重現(xian)性，光(guang)(guang)度線(xian)性和準確的(de)(de)測(ce)量讀(du)數。更小的(de)(de)光(guang)(guang)譜帶寬可滿足常規分析(xi)測(ce)試項目的(de)(de)要求。

采用優(you)化設計和微處理技(ji)術，使儀器具(ju)(ju)有波長自動設置、光源自動切(qie)換位置、波長自動校正，具(ju)(ju)有自動調0%T和100T，氘(dao)燈和鎢燈開關自動控制等控制功能(neng)，以及(ji)T、A、C、F等測試方式。

主(zhu)機具有(you)(you)光度測(ce)(ce)試(shi)功能（固定波長(chang)下測(ce)(ce)試(shi)吸光度或透射比值），具有(you)(you)定量測(ce)(ce)試(shi)功能，采(cai)用(yong)標(biao)準(zhun)(zhun)品對照(zhao)法、標(biao)準(zhun)(zhun)系數法和線性回歸(gui)分(fen)析法（顯示(shi)屏顯示(shi)一元線性回歸(gui)方程(cheng)及相關系數）來直接測(ce)(ce)定待(dai)測(ce)(ce)樣(yang)品的(de)濃度，此外還(huan)可以存(cun)儲、調用(yong)、刪除線性回歸(gui)方程(cheng)。

LCD數(shu)字(zi)顯示(shi)器可清晰顯示(shi)透射(she)比、吸光度和濃度等參數(shu)，提高儀器的讀(du)數(shu)準確(que)性(xing)。

配(pei)有標準(zhun)RS-232通訊接口的型號，可(ke)以連接計(ji)算機運行(xing)(xing)用戶應(ying)用軟(ruan)件，具有光(guang)度測試（T、A）、定(ding)量測試（C、F）及時間(jian)掃(sao)描(miao)及光(guang)譜掃(sao)描(miao)等應(ying)用功能(neng)，可(ke)進行(xing)(xing)數據采集、保存(cun)和調(diao)用。

性能指標：

波長驅動：自動

波長(chang)范圍：190~1100nm

光譜帶(dai)寬(kuan)：2nm

波長(chang)準確度：±0.5nm

波長重復性(xing)：0.2nm

透射比準確度：≤0.3%T

透(tou)射比重復性(xing)：0.1%T

透射(she)比范圍：0~200%T

吸光度(du)范圍：-0.4~4A

濃度顯示(shi)范圍：0~99999

雜散光：≤0.05%T

穩定(ding)性(xing)：±0.001A/h

基線平直度：±0.002A

噪(zao)聲(sheng)：0.0005A

輸出接口：RS-232

回歸方程：具備

動(dong)力學：具備

儀器使用流程：

一、開機預熱(re)：儀(yi)器(qi)在使用前應預熱(re)30分(fen)鐘(zhong)。

二、波長設置

1.按動上下(xia)鍵，并觀察顯示屏上波長值，至需要的測試波長。

2.按動數字鍵，顯示SET WL=XXX(波(bo)長設置值)，再(zai)按“確認"鍵，至需要的(de)測(ce)試波(bo)長。

注意(yi)事項：波長設置(zhi)調(diao) T/0A后，以穩定5分鐘后進行測試為(wei)好(符(fu)合(he)行業標準及質監(jian)局檢(jian)定規(gui)程要求)。

三、設置測試模式

按動(dong)“測(ce)(ce)試模(mo)式"鍵，便可切換測(ce)(ce)試模(mo)式：

A(吸光度)

T(透射比)

C(濃(nong)度)

*開機(ji)默認(ren)的測試方式為吸光度方式

四、設置濃度(du)測試(shi)功能(neng)：在濃度(du)測試(shi)模(mo)式(shi)時，按動“功能(neng)"鍵，才能(neng)進入STD/CONC=1000標準濃度(du)測試(shi)方(fang)式(shi)，或STD/FACT=1000斜(xie)率測試(shi)方(fang)式(shi)。

五、調(diao)T零(ling)（0%T）：儀(yi)器調(diao)0%T必(bi)須在樣品室蓋(gai)關(guan)閉的狀(zhuang)(zhuang)態下。按動(dong)“調(diao)0%T"鍵(jian)顯(xian)示(shi)屏上顯(xian)示(shi)“ZERO?"，儀(yi)器便進入(ru)自(zi)動(dong)調(diao)“0%T"狀(zhuang)(zhuang)態，當顯(xian)示(shi)器顯(xian)示(shi)“XXX.X%T或-0.XXXA"時便完成調(diao)T零(ling)。

六、調 T/0A：將(jiang)參比(bi)(空白)樣品置入樣品架(jia)，并拉動樣品架(jia)拉桿使其(qi)進入光路(lu)。然后按動“調 T/0A"鍵，此時屏(ping)幕顯(xian)示(shi)“BLANK..."延遲數秒便(bian)顯(xian)示(shi)“100.0%T"(在T模式時）或“-0.000A"、“0.000A"（在A模式時），即自(zi)動完(wan)成調 T/0A。

*注意事項：調(diao) T/0A時不要打開樣(yang)品(pin)室蓋、推拉樣(yang)品(pin)架。

七(qi)、結果(guo)打(da)印

在得(de)到(dao)測試結果(guo)后按動“打(da)印(yin)"鍵，便可通(tong)過(guo)RS232輸送給外接打(da)印(yin)機打(da)印(yin)結果(guo)。