755B紫外可見分光光度計 自動波長光譜儀詳細介紹：

可供(gong)物(wu)理學、化學、醫學、生(sheng)物(wu)學、地質學等(deng)學科進行科學研究，是廣泛應用(yong)于(yu)化工、藥品(pin)(pin)、生(sheng)化、冶金、輕(qing)工、食品(pin)(pin)、材(cai)料、環保、醫學化驗(yan)(yan)等(deng)行業及(ji)分析行業中(zhong)重要的(de)質量控制儀器之(zhi)一，是常(chang)規實(shi)驗(yan)(yan)室(shi)的(de)常(chang)用(yong)儀器。

755B紫外可見分光光度計 自動波長光譜儀功能特性：

1200L/mm紫外(wai)光柵，光電轉(zhuan)換器，C-T單(dan)色器結構(gou)。

樣品室可選(xuan)配10cm樣品架。

自動設置(zhi)波長，自動調0%T/ T，T/A轉換。

自動修(xiu)正波長誤差、光源自動切換等(deng)功能。

儀(yi)器(qi)(qi)具有光度、定量、標準曲線等(deng)功(gong)能(neng)，掃描型(xing)儀(yi)器(qi)(qi)可擴(kuo)展回歸方程、動力學等(deng)功(gong)能(neng)。

采用低雜散光(guang)(guang)、高分辨率的(de)光(guang)(guang)柵型單光(guang)(guang)束光(guang)(guang)路結構(gou)，具(ju)有良(liang)好(hao)的(de)穩定性(xing)，重現性(xing)，光(guang)(guang)度線性(xing)和準確(que)的(de)測量(liang)讀數。更小的(de)光(guang)(guang)譜帶寬可滿足(zu)常規(gui)分析(xi)測試項目(mu)的(de)要求。

采用優(you)化設計和微處理技術(shu)，使儀器具(ju)有波長自(zi)動(dong)設置(zhi)、光(guang)源自(zi)動(dong)切(qie)換(huan)位置(zhi)、波長自(zi)動(dong)校正(zheng)，具(ju)有自(zi)動(dong)調(diao)0%T和100T，氘燈和鎢燈開(kai)關(guan)自(zi)動(dong)控(kong)(kong)制等控(kong)(kong)制功能，以及T、A、C、F等測(ce)試(shi)方式。

主機具有(you)光(guang)(guang)度測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)功能（固定波長下測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)吸光(guang)(guang)度或透射比值(zhi)），具有(you)定量測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)功能，采(cai)用標(biao)準(zhun)品(pin)對照法(fa)、標(biao)準(zhun)系數法(fa)和線性(xing)回(hui)歸分析法(fa)（顯示(shi)(shi)屏(ping)顯示(shi)(shi)一元線性(xing)回(hui)歸方程及相(xiang)關系數）來直接測(ce)(ce)(ce)(ce)定待測(ce)(ce)(ce)(ce)樣(yang)品(pin)的濃度，此外還(huan)可以存(cun)儲、調用、刪除線性(xing)回(hui)歸方程。

LCD數(shu)字顯示(shi)器可清晰顯示(shi)透(tou)射(she)比(bi)、吸光度(du)(du)和濃度(du)(du)等參(can)數(shu)，提高儀器的讀(du)數(shu)準確(que)性。

配(pei)有標(biao)準RS-232通訊(xun)接(jie)口(kou)的(de)型(xing)號，可以連接(jie)計算機運行用戶(hu)應用軟件，具有光度測試(shi)（T、A）、定量測試(shi)（C、F）及時間(jian)掃(sao)(sao)描及光譜掃(sao)(sao)描等應用功(gong)能(neng)，可進行數據采(cai)集(ji)、保存和(he)調(diao)用。

性能指標：

波(bo)長驅動：自動

波長范圍：190~1100nm

光譜帶寬：2nm

波長準確度：±0.5nm

波長重(zhong)復性(xing)：0.2nm

透射比準確度：≤0.3%T

透射(she)比(bi)重復性(xing)：0.1%T

透射比(bi)范圍：0~200%T

吸(xi)光度范圍：-0.4~4A

濃度顯(xian)示范圍：0~99999

雜散光：≤0.05%T

穩定性：±0.001A/h

基(ji)線平直度：±0.002A

噪聲：0.0005A

輸出(chu)接(jie)口：RS-232

回歸方程：具(ju)備(bei)

動力學：具備(bei)