上海菁華 752自動波長紫外可見分光光度計詳細介(jie)紹：

儀器自檢過程：

儀器(qi)接(jie)通電源后，進入(ru)自檢(jian)狀態(tai)(tai)(tai)，儀器(qi)會將(jiang)自檢(jian)狀態(tai)(tai)(tai)分別顯(xian)示(shi)在顯(xian)示(shi)器(qi)上(shang)。當(dang)顯(xian)示(shi)器(qi)上(shang)顯(xian)示(shi)“546.0nm 0.00XA"時，儀器(qi)自檢(jian)完畢進入(ru)測試(shi)狀態(tai)(tai)(tai)。顯(xian)示(shi)器(qi)顯(xian)示(shi)儀器(qi)各(ge)部(bu)分自檢(jian)項目的過(guo)程及符(fu)號如(ru)下：

注：若上次在非測試(shi)狀態關機儀(yi)器將跳過此(ci)步驟直接進(jin)入自檢狀態。

UV PHOTOMETER 紫外可見分光光度計

VIS PHOTOMETER 可見分光光度計

SELFTEST?:IC CHECK 00XX 芯片自檢

SELFTEST?:EXCH 光源切換位置自檢(紫外儀器有此顯示)

SELFTEST?:FILTER 濾光片位置自檢

Initialize Mac? 1.Yes 0.No 是否初始化? 1是,0否

SELFTEST?:FIND 0nm 波長限位位置自檢及尋找0級光

SELFTEST?:FIND XXXnm 尋找特征譜線

546.0nm BLANK? 調“ T/0A"

546.0nm ZERO? 調“0%T"

546.0nm BLANK? 調“ T/0A"

546.0nm 0.00XA 自檢完畢進入測試狀態

功(gong)能說明(ming)：Initialize Mac? 1.Yes 0.No

注：若上次在非測(ce)試狀(zhuang)態關機(ji)儀器將跳過此步驟直接(jie)進入自檢狀(zhuang)態。

上海菁華 752自動波長紫外可見分光光度計功能特性：

1200L/mm紫(zi)外光(guang)柵(zha)，C-T單色器(qi)結(jie)構(gou)。

樣品室可擴展至(zhi)10cm樣品架(jia)。

自動設置(zhi)波長(chang)，自動調0%T/ T，T/A轉換。

具有(you)自(zi)動(dong)修(xiu)正波長誤差、光(guang)源自(zi)動(dong)切換等功能。

儀器具有光(guang)度(du)、定量等功(gong)能。

采(cai)用低(di)雜(za)散光(guang)(guang)、高分辨率的(de)光(guang)(guang)柵型單光(guang)(guang)束光(guang)(guang)路結構，具(ju)有良好的(de)穩定性(xing)，重(zhong)現性(xing)，光(guang)(guang)度(du)線(xian)性(xing)和準確的(de)測量讀數。更小的(de)光(guang)(guang)譜(pu)帶寬可滿足常規(gui)分析測試項目(mu)的(de)要(yao)求。

采用(yong)優化設計和微處理技術(shu)，使儀(yi)器(qi)具有(you)波(bo)長自(zi)動(dong)設置、光源(yuan)自(zi)動(dong)切換(huan)位置、波(bo)長自(zi)動(dong)校正，具有(you)自(zi)動(dong)調0%T和100T，氘(dao)燈和鎢燈開(kai)關自(zi)動(dong)控制等控制功能，以及T、A、C、F等測試(shi)方式。

主機具有光度(du)(du)測(ce)(ce)(ce)試功能（固定(ding)波長下測(ce)(ce)(ce)試吸光度(du)(du)或透(tou)射比值），具有定(ding)量測(ce)(ce)(ce)試功能，采用標(biao)準(zhun)品對照法(fa)(fa)、標(biao)準(zhun)系(xi)數(shu)法(fa)(fa)和線(xian)性(xing)回歸(gui)分析法(fa)(fa)（顯示(shi)屏顯示(shi)一(yi)元線(xian)性(xing)回歸(gui)方程及相關系(xi)數(shu)）來直(zhi)接測(ce)(ce)(ce)定(ding)待測(ce)(ce)(ce)樣(yang)品的(de)濃度(du)(du)，此外還(huan)可以存(cun)儲、調用、刪除線(xian)性(xing)回歸(gui)方程。

LCD數(shu)字顯示器可清晰顯示透射(she)比(bi)、吸光度和濃(nong)度等參(can)數(shu)，提高儀器的讀(du)數(shu)準確性(xing)。

配有標準RS-232通(tong)訊(xun)接(jie)口的型號，可以(yi)連接(jie)計算機(ji)運行用戶應(ying)用軟件，具有光度測試（T、A）、定量測試（C、F）及(ji)(ji)時間掃描(miao)及(ji)(ji)光譜掃描(miao)等(deng)應(ying)用功能，可進行數據采集、保(bao)存和調用。

性能指標(biao)：

波長驅動(dong)(dong)：自動(dong)(dong)

光譜帶寬：4nm

波(bo)長范圍：190~1100nm

波(bo)長(chang)準確度(du)：±1nm

波長(chang)重復(fu)性：0.5nm

透射比(bi)準確度：≤0.3%T

透射(she)比重復性：0.1%T

透射比范圍(wei)：0~200%T

吸光(guang)度范圍：-0.4~4A

濃度顯(xian)示范圍：0~99999

雜(za)散(san)光：≤0.1%T

穩定性：±0.001A/h

噪聲：0.0005A

輸出接口：RS-232

控制面板

1.顯示屏可顯示儀器(qi)當前的(de)波長位置(zhi)、透(tou)射比、吸光度(du)、濃(nong)度(du)及其它功能(neng)。

2.測試模式(shi)鍵(jian)按(an)動此鍵(jian)便可切換測試模式(shi)：A吸光度(du)、T透射比(bi)、C濃度(du)。

3.調(diao) T/0A鍵(jian)在A模(mo)式時(shi)，按動此鍵(jian)可自(zi)動調(diao)0A，在T模(mo)式時(shi)，按動此鍵(jian)可自(zi)動調(diao) T。

4.調0%T鍵(jian)按(an)動此鍵(jian)，顯示(shi)屏顯示(shi)ZERO?，儀器便自動調“0%T"。

5.打印鍵按動(dong)此鍵可將測試(shi)數據(ju)通過RS232輸(shu)送給(gei)外接打印機打印。

6.功能鍵按(an)動(dong)此鍵循環顯(xian)示儀器各項(xiang)功能

7.退出(chu)鍵(jian)按動此鍵(jian)即(ji)退出(chu)當前功能。

8.清(qing)除鍵按動此鍵即(ji)將當前設置清(qing)除。

9.確認鍵(jian)按動此鍵(jian)即確認當前(qian)設置有效。

10.數字(zi)鍵供設(she)定參數時(shi)用

11.上(shang)下三(san)角(jiao)形鍵(jian)，在T、A測試模式(shi)時，按(an)動上(shang)鍵(jian)波(bo)長自(zi)動遞增，按(an)動下鍵(jian)波(bo)長自(zi)動遞減；在Load Curve 測試模式(shi)時，可選擇(ze)No.X線性回歸(gui)方程。