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上海菁華 754自動波長紫外可見分光光度計

簡要描(miao)述:上海菁華 754自(zi)(zi)動(dong)波(bo)長(chang)(chang)紫外可見分光光度計(ji),波(bo)長(chang)(chang)驅動(dong):自(zi)(zi)動(dong),光譜帶寬:4nm,波(bo)長(chang)(chang)范圍:190~1100nm,自(zi)(zi)動(dong)設置波(bo)長(chang)(chang),自(zi)(zi)動(dong)調(diao)0%T/ T,T/A轉換。具有自(zi)(zi)動(dong)修正波(bo)長(chang)(chang)誤差、光源自(zi)(zi)動(dong)切(qie)換等功(gong)能。儀器(qi)具有光度、定量等功(gong)能。

產品型號:

所屬分類:紫外可見分光光度計

更(geng)新時間:2024-04-17

廠商性質:生產廠家

瀏覽次數:990

詳情介紹
品牌其他品牌光譜帶寬4nmnm
波長準確度±0.5nmnm雜散光(S.L.)≤0.05%T%T
波長范圍190~1100nmnm自動程度自動波長
接收器類光電倍增管(PMT)儀器結構單光束
價格區間5千-1萬應用領域醫療衛生,環保,食品,化工,生物產業
打印機標配一臺打印機

上海菁華 754自動波長紫外可見分光光度計詳細介紹:

儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)柵C-T式單(dan)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)束結(jie)構光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)路,光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)學系統由鹵鎢(wu)燈或氘燈發出(chu)(chu)的(de)連(lian)續輻射(she)(she)(she)(she)經聚光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)鏡(jing)(jing)(jing)聚光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)后投向(xiang)(xiang)單(dan)色(se)器(qi)入(ru)射(she)(she)(she)(she)狹(xia)縫(feng),此(ci)狹(xia)縫(feng)正(zheng)好(hao)處于聚光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)鏡(jing)(jing)(jing)及(ji)單(dan)色(se)器(qi)內準(zhun)直(zhi)(zhi)鏡(jing)(jing)(jing)的(de)焦平(ping)面上,因此(ci)進入(ru)單(dan)色(se)器(qi)的(de)復合光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)通過平(ping)面反(fan)射(she)(she)(she)(she)鏡(jing)(jing)(jing)及(ji)準(zhun)直(zhi)(zhi)鏡(jing)(jing)(jing)變成(cheng)平(ping)行光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)射(she)(she)(she)(she)向(xiang)(xiang)色(se)散元(yuan)件光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)柵,光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)柵將入(ru)射(she)(she)(she)(she)的(de)復合光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)通過衍(yan)射(she)(she)(she)(she)作用(yong)形成(cheng)按照一定順序均勻排(pai)列的(de)連(lian)續單(dan)色(se)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)譜后,射(she)(she)(she)(she)向(xiang)(xiang)球(qiu)(qiu)面反(fan)射(she)(she)(she)(she)鏡(jing)(jing)(jing)。由于儀(yi)器(qi)出(chu)(chu)射(she)(she)(she)(she)狹(xia)縫(feng)設置在(zai)該球(qiu)(qiu)面反(fan)射(she)(she)(she)(she)鏡(jing)(jing)(jing)的(de)焦平(ping)面上,這樣,從光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)柵色(se)散出(chu)(chu)來的(de)單(dan)色(se)光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)譜經球(qiu)(qiu)面反(fan)射(she)(she)(she)(she)鏡(jing)(jing)(jing)聚光(guang)(guang)(guang)(guang)(guang)后成(cheng)象在(zai)出(chu)(chu)射(she)(she)(she)(she)狹(xia)縫(feng)上,出(chu)(chu)射(she)(she)(she)(she)狹(xia)縫(feng)選出(chu)帶寬(kuan)的單色(se)光通過聚光鏡(jing)聚光落在樣(yang)品(pin)室被測樣(yang)品(pin)中(zhong)心,樣(yang)品(pin)吸(xi)收后透(tou)射(she)的光射(she)向光電池接收面。

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上海菁華 754自動波長紫外可見分光光度計功能(neng)特性:

1200L/mm紫外光柵,C-T單色器(qi)結構。

樣品(pin)室可擴展至10cm樣品(pin)架。

自(zi)動設置波長,自(zi)動調(diao)0%T/ T,T/A的(de)轉換。

具有自動修正波長誤差、光源自動切(qie)換等(deng)功能(neng)。

儀器具有光度、定量、標準曲(qu)線等功能(neng)

采(cai)用低雜散光(guang)、高分(fen)辨(bian)率的(de)(de)光(guang)柵型單光(guang)束光(guang)路結構(gou),具有良好(hao)的(de)(de)穩定性(xing),重現性(xing),光(guang)度線性(xing)和準確(que)的(de)(de)測量讀數。更小(xiao)的(de)(de)光(guang)譜帶寬可滿足(zu)常規分(fen)析(xi)測試項目(mu)的(de)(de)要求。

采用優化設計和(he)微處理(li)技術,使儀器具有波長自(zi)(zi)動(dong)(dong)設置、光源自(zi)(zi)動(dong)(dong)切換位置、波長自(zi)(zi)動(dong)(dong)校(xiao)正,具有自(zi)(zi)動(dong)(dong)調(diao)0%T和(he)100T,氘燈和(he)鎢燈開關自(zi)(zi)動(dong)(dong)控制(zhi)等(deng)控制(zhi)功(gong)能,以及(ji)T、A、C、F等(deng)測試方式。

主(zhu)機具有光度(du)測試功(gong)能(neng)(固定(ding)波長下測試吸光度(du)或透射比(bi)值),具有定(ding)量測試功(gong)能(neng),采(cai)用標準品(pin)對照法、標準系(xi)數(shu)法和線(xian)性(xing)(xing)回(hui)歸(gui)分析法(顯(xian)示屏(ping)顯(xian)示一元(yuan)線(xian)性(xing)(xing)回(hui)歸(gui)方程(cheng)(cheng)及相關系(xi)數(shu))來直接測定(ding)待測樣(yang)品(pin)的濃度(du),此外(wai)還(huan)可以存(cun)儲、調用、刪除線(xian)性(xing)(xing)回(hui)歸(gui)方程(cheng)(cheng)。

LCD數(shu)字顯(xian)(xian)示(shi)器可清(qing)晰顯(xian)(xian)示(shi)透射比、吸光度和濃度等參數(shu),提高儀器的讀(du)數(shu)準確性。

配有標準RS-232通(tong)訊接口的型號,可(ke)以連接計算機(ji)運行用(yong)戶應(ying)用(yong)軟件(jian),具有光度測(ce)(ce)試(shi)(shi)(T、A)、定量測(ce)(ce)試(shi)(shi)(C、F)及時間掃描及光譜掃描等應(ying)用(yong)功能,可(ke)進行數據采集、保存和調用(yong)。

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性能指標(biao):

波(bo)長驅動(dong):自(zi)動(dong)

波長(chang)范(fan)圍:190~1100nm

波長準確度:±0.5nm

波長重復性(xing):0.2nm

光譜帶寬:4nm

透射比準確(que)度:≤0.3%T

透射比重(zhong)復(fu)性:0.1%T

透射比范(fan)圍(wei):0~200%T

吸光度范圍:-0.4~4A

濃度顯(xian)示范圍:0~99999

雜散光:≤0.05%T

穩定性:±0.001A/h

噪聲:0.0005A

輸出接口:RS-232

回(hui)歸(gui)方程:具備

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1.按(an)1鍵儀器進入自檢(jian)狀態。

2.按(an)0鍵儀器顯(xian)示屏顯(xian)示“Wait..."等待片刻即(ji)跳過自檢狀態,進入 后一次關(guan)機(ji)前狀態(非正(zheng)常關(guan)機(ji)除外)。

3.不按“0"或“1"鍵(jian),儀器(qi)進入預熱(re)狀態(tai),約二十(shi)分鐘后自動進行自檢。

注(zhu)意事(shi)項:

1.自(zi)檢前應確(que)認(ren)樣品(pin)室(shi)內樣品(pin)架定位正(zheng)確(que),無(wu)物品(pin)擋住光路(lu)。

2.在(zai)自檢(jian)過程中切勿(wu)打開樣(yang)品(pin)室蓋,推拉樣(yang)品(pin)架。

3.自檢結束波長(chang)(chang)定(ding)位(546nm)后,在(zai)顯示“546.0nm ZERO..."過程中,因對全波長(chang)(chang)調0%T,故(gu)約需20秒左右,在(zai)此時段時間,請勿打(da)開(kai)樣品室蓋。



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