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  • ESJ120-4B電子分析天平
    ESJ120-4B電子分析天平

    ESJ120-4B電子分析天平。外部校準萬分之一天平,稱量范圍:120g,可讀性:0.1mg,后置式電磁力傳感器技術獲得更高的分辨率。配備外置F1級無磁不銹鋼校準砝碼,隨時隨需校準。

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  • ESJ200-4B電子分析天平
    ESJ200-4B電子分析天平

    ESJ200-4B電子分析天平。外部校準萬分之一天平,稱量范圍:200g,可讀性:0.1mg,后置式電磁力傳感器技術獲得更高的分辨率。配備外置F1級無磁不銹鋼校準砝碼,隨時隨需校準。

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  • ESJ210-4B電子分析天平
    ESJ210-4B電子分析天平

    ESJ210-4B電子分析天平。外部校準萬分之一天平,稱量范圍:210g,可讀性:0.1mg,后置式電磁力傳感器技術獲得更高的分辨率。配備外置F1級無磁不銹鋼校準砝碼,隨時隨需校準。

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  • ESJ220-4B電子分析天平
    ESJ220-4B電子分析天平

    ESJ220-4B電子分析天平。外部校準萬分之一天平,稱量范圍:220g,可讀性:0.1mg,后置式電磁力傳感器技術獲得更高的分辨率。配備外置F1級無磁不銹鋼校準砝碼,隨時隨需校準。

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  • HZK-FA110電子分析天平
    HZK-FA110電子分析天平

    HZK-FA110電子分析天平。萬分之一電子分析天平,稱量范圍:0~110g,可讀性:0.1mg,外部校準,電磁力質量傳感器,七級防震濾波可調功能。稱重穩定時間可調功能。內置時間溫度設定顯示功能。

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